Automatisk detektering av bipolära NPN- och PNP-transistorer, N- och P-kanals MOSFET, JFET, dioder, dubbla dioder, tyristorer och triacs. Mätning av strömförstärkningsfaktor och -Emitterspänning för bipolära transistorer. Detektering av skyddsdioden för bipolära transistorer och MOSFETs. Mätning av Gate-spänningen och Gate-kapacitetsvärdet för MOSFETs. Induktansmätområdet är från 0,01mH till 20H, utanför intervallet eller om motståndet högre än 2,1K kommer att visas vid motståndet. Testtiden är cirka 2 sekunder, endast kapacitets- eller induktansmätning kan periodiseras. Behållaren för små enheter är designad för att placera de små komponenterna. Sondsockeln stöder olika typer av sonder, såsom motstånds- och kondensatortestklämma, klämma och multimetertestledningar. Med ett typiskt värde på elektrolytisk kondensatortabell på cover, lätt för användaren att upptäcka kondensatorernas kvalitet. Tabellen är endast avsedd för referens, tillverkarens data som standard. Typ: A: Utan testklämma Motståndsområde: 0~50MRistans Upplösning: 0.01 Kapacitansintervall: 25pF~100mFCapacitans Upplösning: 1pFInduktansintervall: 0.01mH~20HInduktans:0Hinduktans:0Hinduktans:0Hinduktans:0mF ~50mFCapacitans Upplösning: 0,01 Försörjning: 1 * 9V 6F22 batteri (ingår INTE) Material: plastfärg: Som visat Paketinnehåll: 1 x Transistor Tester Endast ovanstående förpackningsinnehåll, andra produkter ingår inte. Obs: Ljus och olika displayer kan färgen på föremål i den lite annorlunda än den äkta varan. Det tillåtna mätfelet är +/- 1-3 cm.